刘军民, 陈敏. 用衰减全反射(ATR)研究金属薄膜的物理性质[J]. 南昌航空大学学报(自然科学版), 1999, 13(2): 57-61.
引用本文: 刘军民, 陈敏. 用衰减全反射(ATR)研究金属薄膜的物理性质[J]. 南昌航空大学学报(自然科学版), 1999, 13(2): 57-61.
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LIU Jun-min, CHEN Min. Analysis of Metallic Film for Physical Property with the Method of Attenuated Total Reflection[J]. Journal of nanchang hangkong university(Natural science edition), 1999, 13(2): 57-61.
Citation: LIU Jun-min, CHEN Min. Analysis of Metallic Film for Physical Property with the Method of Attenuated Total Reflection[J]. Journal of nanchang hangkong university(Natural science edition), 1999, 13(2): 57-61.
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用衰减全反射(ATR)研究金属薄膜的物理性质

Analysis of Metallic Film for Physical Property with the Method of Attenuated Total Reflection

    摘要
  • 摘要: 本文作者所设计的实验是利用光学中全反射衰减特性方法测量在介质上蒸镀的金属薄膜的厚度和各种频率下的复介电常数等物理性质,它可以精确测定100～1000范围内金属膜层的厚度和ε(ω)值,以及一些其它性质,是研究固体表面物理的一种有效的方法和技术.

     

    Abstract: The experiment designed is for determination of the physical property,the thickness and so on,of the metallic film by using the method of optical attenuated tatal reflection.It is an effective method and technigue for analyzing the solid surface physics.

     

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